Profilometr stykowy Taylor Hobson SURTRONIC 3+
Zakres pomiarowy: 0,10 µm – 300 µm (0,04 µin – 0,012 µin)
Rozdzielczość pomiarowa: 0,01µm (0,04µin)
Dokładność: 2% odczytu + 0,1 µm
Siła nacisku pomiarowego: 150 – 300 mg
Mierzone parametry: Ra, Rz, Rt, Rp, Rmr, Rpc, RSm, Rz1max, Rsk, Rda
Profilometr stykowy Mahr Perthometr M2
Zakres pomiarowy: 100 µm, 150 µm
Rozdzielczość pomiarowa: 12nm
Odcinek elementarny: 0,08/ 0,25/ 0,8/ 2,5 mm
Całkowity odcinek pomiarowy: 1,25/ 4/ 12,5 mm
Mierzone parametry: Ra, Rz, Ry, Rmax, Rt, Rp, Rq, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Pc, Mr, Sm, S
Profilometr stykowy HOMMEL TESTER T1000
Zakres pomiarowy: 80 µm, 320 µm
Rozdzielczość pomiarowa: 0,01 µm, 0,04 µm
Odcinek elementarny: 0,08/ 0,25/ 0,8/ 2,5 mm
Całkowity odcinek pomiarowy: 0,48/1,5/4,8/15 mm
Mierzone parametry: Ra, Rz, Ry, Rmax, Rt, Rp, Rq, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Pc, Mr, Sm, S
Projekt współfinansowany ze środków Unii Europejskiej w ramach Europejskiego Funduszu Społecznego, Program Operacyjny Wiedza Edukacja Rozwój 2014-2020 "PL2022 - Zintegrowany Program Rozwoju Politechniki Lubelskiej" POWR.03.05.00-00-Z036/17