Przenośne przyrządy do pomiaru chropowatości

Profilometr stykowy Taylor Hobson SURTRONIC 3+

 

Zakres pomiarowy: 0,10 µm – 300 µm (0,04 µin – 0,012 µin)

Rozdzielczość pomiarowa: 0,01µm (0,04µin)

Dokładność: 2% odczytu + 0,1 µm

Siła nacisku pomiarowego: 150 – 300 mg

Mierzone parametry: Ra, Rz, Rt, Rp, Rmr, Rpc, RSm, Rz1max, Rsk, Rda

 

Profilometr stykowy Mahr Perthometr M2

Zakres pomiarowy: 100 µm, 150 µm

Rozdzielczość pomiarowa: 12nm

Odcinek elementarny: 0,08/ 0,25/ 0,8/ 2,5 mm

Całkowity odcinek pomiarowy: 1,25/ 4/ 12,5 mm

Mierzone parametry: Ra, Rz, Ry, Rmax, Rt, Rp, Rq, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Pc, Mr, Sm, S

 

 

Profilometr stykowy HOMMEL TESTER T1000

 

Zakres pomiarowy: 80 µm, 320 µm

Rozdzielczość pomiarowa: 0,01 µm, 0,04 µm

Odcinek elementarny: 0,08/ 0,25/ 0,8/ 2,5 mm

Całkowity odcinek pomiarowy: 0,48/1,5/4,8/15 mm

Mierzone parametry: Ra, Rz, Ry, Rmax, Rt, Rp, Rq, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Pc, Mr, Sm, S